觸屏綜合性能試驗(yàn)機(jī)是集運(yùn)動(dòng)控制、數(shù)據(jù)采集、分析統(tǒng)計(jì)技術(shù)于一體的高、精、專型設(shè)備,其核心是電腦通迅觸屏芯片控制觸摸屏的點(diǎn)擊、劃線、屏反應(yīng)能力的控制系統(tǒng)程序。本產(chǎn)品具有功能強(qiáng)、編程簡(jiǎn)單、操作方便等優(yōu)點(diǎn).適用于LED觸摸屏、CTP觸摸屏、電容屏等整機(jī)制造商(手機(jī),平板電腦、車載屏等)產(chǎn)品研發(fā)檢測(cè)用。

觸屏綜合性能試驗(yàn)機(jī) 測(cè)試功能

1、點(diǎn)擊精度測(cè)試--根據(jù)客戶不同要求,在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊,測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差,并支持兩點(diǎn)

          同時(shí)點(diǎn)擊,真實(shí)地檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度；觸屏綜合性能試驗(yàn)機(jī)觸屏綜合性能試驗(yàn)機(jī)
2、線性度測(cè)試-支持平行線;垂直線;對(duì)角線;圓弧等多種圖像來檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差.可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距；

          線數(shù)及弧度的大小,并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線;兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式,達(dá)到更精準(zhǔn)的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性；

3、靈敏度測(cè)試-可設(shè)定不同劃線軌跡,實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線,觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定,并能自動(dòng)找出

          觸控高度；
4、坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試--在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形,并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取,并計(jì)算出偏差值；
5、劃線可靠性測(cè)試--在測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)置多種測(cè)試圖形,并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線,判定在測(cè)試過程中是否有

          斷線現(xiàn)象；
6、信噪比測(cè)試-通過對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試,采集IC采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比；觸觸屏綜合性能試驗(yàn)機(jī)
7、報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試-在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品,多次采集數(shù)據(jù),計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率；
8、響應(yīng)時(shí)間測(cè)試-在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊,通過控制觸控采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間,支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；
9、功耗測(cè)試-通過高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗；
10、觸屏綜合性能試驗(yàn)機(jī)軟件防呆能力;權(quán)限設(shè)置一鍵式測(cè)試,操作簡(jiǎn)易,測(cè)試完畢可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)(偏差值)自動(dòng)判

              定PASS Of FAIL；

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